可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱——節(jié)能型高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

　　原標(biāo)題：可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱——節(jié)能型高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備

　　恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)又名環(huán)境試驗(yàn)機(jī)，試驗(yàn)各種材料耐熱、耐寒、耐干、耐濕性能；適合電子、電器、通訊、儀表、車(chē)輛、塑膠制品、金屬、食品、化學(xué)、建材、醫(yī)療、航天等制品檢測(cè)質(zhì)量之用。

　　PY-E503智能型恒溫恒濕試驗(yàn)箱等科研及生產(chǎn)單位提供溫濕度變化環(huán)境，供用戶(hù)對(duì)整機(jī)（或部件）、電器、儀器、材料等作溫濕度試驗(yàn)，以便考核試品的適應(yīng)性或?qū)υ嚻返男袨樽鞒鲈u(píng)價(jià)。

　　執(zhí)行/參考標(biāo)準(zhǔn)：

　　1.GB/T高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　2.GB/T-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　3.GB/T-89高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　4.GB/T-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

　　5.GB/T2423.1-2008低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　6.GB/T2423.2-2008高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　7.GB/T2423.3-2006濕熱試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　8.GB/T2423.4-2008交變濕熱試驗(yàn)方法

　　9.GB/T2423.22-2008溫度變化試驗(yàn)方法

　　10.IEC-2-1.1990低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　11.IEC-2-2.1974高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

　　12.GJB150.3-2009高溫試驗(yàn)-**裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法

　　13.GJB150.4-2009低溫試驗(yàn)-**裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法

　　14.GJB150.9-2009濕熱試驗(yàn)-**裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法

　　技術(shù)參數(shù)：

　　型號(hào)：PY-E503恒溫恒濕試驗(yàn)箱

　　廠家：深圳市普云電子有限公司

　　標(biāo)稱(chēng)內(nèi)容積:100L/150L/225L/408L/800L/1000L（可定制）

　　1、溫度范圍：A：空載－40℃～+150℃、B：空載－70℃～+150℃（可定制）

　　2、濕度范圍：20%~98%R.H.（可非標(biāo)5%~98%R.H.)（可定制）

　　3、設(shè)備電源：AC220V50Hz，AC380V50Hz

　　4、控制精度：

　　4.1溫度分辨率：0.01℃濕度分辨率：0.1%R.H

　　4.2溫度偏差：±0.5℃濕度偏差：±2%R.H

　　4.3溫度均勻度：≦2℃濕度均勻度：±3%R.H

　　4.4溫度波動(dòng)度：±0.5℃濕度波動(dòng)度：±2%R.H

　　5、升降溫速率：

　　5.1：升溫時(shí)間：-70℃→+150℃全程平均≧3℃/min

　　5.2：降溫時(shí)間：150℃→-70℃全程平均≧1℃/min

　　PY-E503可程式恒溫恒濕試驗(yàn)箱——節(jié)能型高低溫環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域必備的測(cè)試設(shè)備，用于模擬電子儀器儀表、新型材料、電工、車(chē)輛、金屬、電子產(chǎn)品、航空航天材料等在運(yùn)輸、儲(chǔ)存、使用等各種高溫、低溫、濕熱交變環(huán)境下，檢驗(yàn)材料、配件或儀器設(shè)備耐高溫、耐寒、耐濕熱性能及可能造成的損壞壽命縮減，交變濕熱度或恒定試驗(yàn)的溫度環(huán)境變化后的參數(shù)及性能情況測(cè)試。

　　產(chǎn)品應(yīng)用：

　　1、試驗(yàn)系統(tǒng)結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)合理，制造工藝規(guī)范，外觀美觀、大方。

　　2、該試驗(yàn)箱主要功能元器件均采用好的配置、技術(shù)原理可靠、噪音低、能耗低

　　3、零部件的配套與組裝匹配性好，設(shè)備具有良好的操作性、維護(hù)性、良好的溫度穩(wěn)定性及持久性、良好的安全性能

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